001 |
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11756 |
010 |
0
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|a9576191173|b(平裝)
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100 |
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|a20091019d2004 k y0chib50 e
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101 |
0
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|achi
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102 |
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|atw
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105 |
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|aak z 000yy
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200 |
1
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|a原子力顯微鏡專利地圖及分析|dPatent analysis of atomic force microscope|f汪島軍等作
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205 |
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|a第1版
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210 |
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|a臺北市|c行政院國科會科資中心|d民93.6[2004.6]
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215 |
1
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|a[12], 125面|c彩圖, 表|d30公分
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225 |
12
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|a奈米技術專利研究系列|dPatent analysis-nanotechnology series|v8
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300 |
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|aSTIC-RPR-093-04
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320 |
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|a含參考書目及索引
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510 |
1
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|aPatent analysis of atomic force microscope|zeng
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606 |
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|2csh|a電子顯微鏡
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606 |
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|2csh|a奈米技術
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660 |
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|ae-je
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681 |
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|a471.73|b77557
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700 |
1
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|a汪|b島軍|4作
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801 |
0
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|atw|b台經院|c20091019|gCCR
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801 |
1
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|atw|b台經院|c20091019|gCCR
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